연구업적
논문 (최근 3년간의 실적)
년도 | 제목 |
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2024-09-30 | Properties of TiN Thin Films Deposited by ALD Using TDMAT Precursor in Low-Temperature Processes |
2024-09-09 | Improved Plasma Etch Endpoint Detection Using Attention-Based Long Short-Term Memory Machine Learning |
2024-09-02 | Design of plasma strip chamber for uniform gas supply with fluid flow simulation |
2024-09-01 | Effect of NH3 flow rate to titanium nitride as etch hard mask in thermal atomic layer deposition |
2024-08-31 | Plasma Pretreatment System for the Reduction of By-product Particles in Semiconductor Manufacturing |
2024-06-03 | Use of plasma process diagnostic sensors for the monitoring of in situ dry cleaning of plasma enhanced chemical vapor deposition chamber |
2024-05-27 | Influence of Flow Rates and Flow Times of Plasma-Enhanced Atomic Layer Deposition Purge Gas on TiN Thin Film Properties |
2024-05-08 | Part-Level Fault Classification of Mass Flow Controller Drift in Plasma Deposition Equipment |
2024-04-22 | Enhanced temperature uniformity of electrostatic chuck: ceramic surface contact ratio and backside gas pressure |
2024-03-31 | 주파수 도메인 반사파 측정법을 이용한 플라즈마 공정장비 상태변화 연구 |
2024-03-04 | Eco-Friendly Dry-Cleaning and Diagnostics of Silicon Dioxide Deposition Chamber |
2024-02-22 | Optimizing Binding Site Spacing in Fluidic Self-Assembly for Enhanced Microchip Integration Density |
2024-02-07 | Explainable artificial intelligence-based evidential inferencing on process faults in plasma etching |
2023-12-31 | In-situ Process Monitoring Data from 30-Paired Oxide-Nitride Dielectric Stack Deposition for 3D-NAND Memory Fabrication |
2023-12-31 | Neural Network-based Time Series Modeling of Optical Emission Spectroscopy Data for Fault Prediction in Reactive Ion Etching |
2023-12-31 | 반도체·디스플레이 탄소중립을 위한 PECVD 챔버세정용 NF3대체가스 개발연구 |
2023-11-01 | Equipment Condition Monitoring of Multiple Oxide-Nitride Stack Layer Deposition Process |
2023-11-01 | Thermal and Electrical Analysis of the Electrostatic Chuck for the Etch Equipment |
2023-10-09 | Improved impedance matching speed with gradient descent for advanced RF plasma system |
2023-08-26 | Plasma Ion Bombardment Induced Heat Flux on the Wafer Surface in Inductively Coupled Plasma Reactive Ion Etch |
2023-05-26 | Heat transfer mechanism of electrostatic chuck surface and wafer backside to improve wafer temperature uniformity |
2023-03-05 | In Situ Plasma Impedance Monitoring of the Oxide Layer PECVD Process |
2023-02-22 | Wafer Type Ion Energy Monitoring Sensor for Plasma Diagnosis |
2023-02-08 | Generative Adversarial Network-Based Fault Detection in Semiconductor Equipment with Class-Imbalanced Data |
2023-02-01 | Superior field emission characteristics of highly crystalline and thermally stable carbon nanotubes grown in N2 and O2 by arc discharge |
2023-01-31 | In situ monitoring of plasma ignition step during photoresist stripping using O2/N2 and O2/Ar |
2023-01-27 | Probe card-Type multizone electrostatic chuck inspection system |
2023-01-25 | Alleviating Class-Imbalance Data of Semiconductor Equipment Anomaly Detection Study |
2023-01-03 | Spectroscopic Analysis of NF3 Plasmas with Oxygen Additive for PECVD Chamber Cleaning |
2022-08-01 | Effect of the inertial term of the ion momentum equation on fluid transport simulation for capacitively coupled plasma sources |
2022-07-27 | Spectroscopic Analysis of CF4/O2 Plasma Mixed with N2 for Si3N4 Dry Etching |
2022-06-30 | Abnormal Detection in 3D-NAND Dielectrics Deposition Equipment Using Photo Diagnostic Sensor |
2022-06-30 | 임피던스 정합장치 내 위상센서를 이용한 RF정합 알고리즘 연구 |
2022-06-30 | Aerosol Deposition Nozzle Design for Uniform Flow Rate: Divergence Angle and Nozzle Length |
2022-06-30 | Characterization of Gas Phase Etching Process of SiO2 with HF/NH3 |
2022-03-22 | Chemical reaction mechanism of plasma scrubber for by-product treatment in TiN-atomic layer deposition processes |
2022-03-22 | Machine Learning-Based Process-Level Fault Detection and Part-Level Fault Classification in Semiconductor Etch Equipment |
2022-03-10 | On-Wafer Temperature Monitoring Sensor for Condition Monitoring of Repaired Electrostatic Chuck |
2022-02-05 | Virtual Metrology for Etch Profile in Silicon Trench Etching With SF6/O2/Ar Plasma |
2022-01-26 | Industrial Internet of Things for Condition Monitoring and Diagnosis of Dry Vacuum Pumps in Atomic Layer Deposition Equipment |
2022-01-13 | Use of Optical Emission Spectroscopy Data for Fault Detection of Mass Flow Controller in Plasma Etch Equipment |
2021-12-31 | 인공면역체계를 이용한 플라즈마 증착 장비의 유량조절기 오류 검출 실험 연구 |
2021-11-30 | In-Situ Optical Monitoring of Atmospheric Pressure Plasma During Organic Surface Removal |
2021-11-30 | Kinetic Mechanism of Reactive Oxygen/Nitrogen Species in Plasma-Assisted Greenhouse Gas Replacement |
2021-11-30 | Investigation of Structure Modification of Underlying SiCOH Low-k Dielectrics with Subsequent Hardmask Deposition Process Conditions |
연구수탁 (최근 3년간의 실적)
년도 | 제목 |
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2024-06-05 | 2024년 반도체특성화대학지원사업 (용인시보조금) |
2024-04-04 | 2024 용인 지역맞춤 공유학교 명지대학교 프로그램 용역 |
2024-03-01 | [RCMS]차세대반도체 창의융합형 글로벌 공학인재 양성(6-3차년도) |
2024-03-01 | 식각 공정 플라즈마 진단용 AI 기반 고기능 OES 센서 기술 개발(3-3차년도) |
2024-03-01 | [RCMS]산학협력 프로젝트 기반 반도체소부장 실무인재양성(3-3차년도) |
2024-03-01 | [RCMS]차세대반도체소재부품장비후공정 전문인력양성(5-1차년도) |
2024-03-01 | [RCMS]식각 공정 플라즈마 진단용 AI기반 고기능 OES 센서 기술 개발(3-3차년도) |
2024-03-01 | [RCMS]반도체특성화대학지원사업(4-2차년도) |
2024-01-05 | [3-1차년도](1세부과제)공동 플라즈마 DB, 센터 및 차세대 소재기술 개발(2단계) |
2024-01-05 | 장비 플라즈마 데이터 기반 지능형 제어 시스템 개발(2단계 1차년도) |
2024-01-01 | [RCMS]디스플레이 TFT 보호막 성막을 위한 기상증착공정용 GWP 150 이하의 대체가스 및 공정 기술 개발(8-2차년도) |
2024-01-01 | [RCMS] 경기도 반도체 전문인력 양성사업(3-2차년도) |
2024-01-01 | [RCMS]저 GWP 가스용 원격플라즈마 가스분해 공급 장치에 적용 가능한 GWP 1,000이하 증착 챔버 세정 가스 및 성능 고도화 기술 개발(4-3차년도) |
2023-10-31 | [RCMS]식각 공정 플라즈마 진단용 AI기반 고기능 OES 센서 기술 개발(3-2차년도) |
2023-09-22 | 식각 공정 플라즈마 진단용 AI 기반 고기능 OES 센서 기술 개발(3-2차년도) |
2023-08-24 | [RCMS]반도체특성화대학지원사업(4-1차년도) |
2023-07-25 | [RCMS]디스플레이 TFT 보호막 성막을 위한 기상증착공정용 GWP 150 이하의 대체가스 및 공정 기술 개발(8-1차년도) |
2023-05-04 | [RCMS] 경기도 반도체 전문인력 양성사업(3-1차년도) |
2023-03-01 | [RCMS]산학협력 프로젝트 기반 반도체소부장 실무인재양성(3-2차년도) |
2023-03-01 | [RCMS]산학프로젝트 기반 반도체소재부품장비기술 전문인력양성(5-5차년도) |
2023-03-01 | [RCMS]저 GWP 가스용 원격플라즈마 가스분해 공급 장치에 적용 가능한 GWP 1,000이하 증착 챔버 세정 가스 및 성능 고도화 기술 개발(4-2차년도) |
2023-03-01 | [RCMS]차세대반도체 창의융합형 글로벌 공학인재 양성(6-2차년도) |
2023-01-01 | [RCMS]반도체 산업 AI융합인재양성(5-3차년도) |
2023-01-01 | [RCMS] 200단급 이상 3D NAND용 Oxide 및 Nitride 증착장비 개발(4-4차년도) |
2023-01-01 | [RCMS]ALD 공정 생산성 향상을 위한 부산물처리用 高용량(기존 대비 2배 이상) 플라즈마 배기 처리 시스템 개발(4-4차년도) |
2022-11-01 | 장비 플라즈마 데이터 기반 지능형 제어 시스템 개발(1단계 3차년도) |
2022-10-31 | [RCMS]식각 공정 플라즈마 진단용 AI기반 고기능 OES 센서 기술 개발(3-1차년도) |
2022-10-13 | 첨단분야 특성화대학 지원 정책연구 |
2022-09-22 | 식각 공정 플라즈마 진단용 AI 기반 고기능 OES 센서 기술 개발(3-1차년도) |
2022-08-10 | 장비활용실험용역 (2022년 갱신) |
2022-07-11 | [RCMS]산학협력 프로젝트 기반 반도체소부장 실무인재양성(3-1차년도) |
2022-05-10 | [RCMS]차세대반도체 창의융합형 글로벌 공학인재 양성(6-1차년도) |
2022-03-01 | [RCMS]산학프로젝트 기반 반도체소재부품장비기술 전문인력양성(5-4차년도) |
2022-01-01 | [RCMS] 200단급 이상 3D NAND용 Oxide 및 Nitride 증착장비 개발(4-3차년도) |
2022-01-01 | [RCMS]ALD 공정 생산성 향상을 위한 부산물처리用 高용량(기존 대비 2배 이상) 플라즈마 배기 처리 시스템 개발(4-3차년도) |
2022-01-01 | [RCMS]반도체 산업 AI융합인재양성(5-2차년도) |
2022-01-01 | [RCMS]시스템 반도체 제조용 PVD Sputter 정전척(ESC) 개발(3-3차년도) |
저서 (최근 3년간의 실적)
년도 | 제목 |
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2021-11-30 | 용인학 |
지적재산권 (최근 3년간의 실적)
년도 | 제목 |
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2024-05-10 | 플라즈마 공정이 수행되지 않는 환경에서 공정 챔버를 모니터링하는 시스템 및 방법 |
2024-04-01 | 부산물 처리 장치 |
2024-03-13 | 성능 평가 시스템 |
2023-11-20 | 3D 낸드 메모리의 제조 공정 진단 시스템 및 방법 |
2023-09-26 | 장비 데이터를 이용하는 플라즈마 공정 진단 시스템 및 방법 |
2023-03-14 | 반도체 증착 장비의 배관 상태 모니터링 방법 및 그 장치 |
2022-09-06 | Rf 센서 장치(rf sensor deivce) |
2022-07-25 | 실리콘 웨이퍼 습식 식각 장치 및 이의 조립 공정 |
2022-01-26 | 성능 평가 시스템 |
2021-11-25 | 정전척 평가 장치 및 방법 |
학술대회발표 (최근 3년간의 실적)
년도 | 제목 |
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2024-06-27 | Condition Monitoring of Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition Chamber with RF Frequency Scanning Method |
2024-06-27 | Enhancement of the Chamber Cleaning Rate in the Romote Plasma Dry Cleaning System |
2022-05-27 | HCl과 NOx 생성량 감소를 위한 공정조건의 영향 분석 |
2022-05-27 | 열원에 따른 건식 스크러버의 화학 반응 및 분해 효율 변화 |
2022-05-27 | 반도체 공정 플라즈마의 실시간 진단을 위한 비 침습적 방법 |
2022-05-27 | 정전척 후면가스 압력에 따른 웨이퍼 표면의 열적 특성 분석 및 시뮬레이션 연구 |
2022-05-27 | 질화규소 박막 내 수소함량에 따른 특성 분석 |
2022-05-26 | 반도체 및 디스플레이 시스템의 공정진단 |